Caracterización de diodos Schottky Pt/GaAs de capa porosa mediante microscopía de efecto túnel.

F. Pérez-Murano, N. Barniol, X. Aymerich y L.M. Lechuga.

In Microelectrónica 92: Tecnologías, Diseño, Aplicaciones, Editors: A.M. Burón, J. A. Michell Martin, J.M. Solana Quirós and A. Ruiz Robredo, Servicio de Publicaciones de la Universidad de Cantabria (Spain), 1993, 108-110


ISBN: 84-8102-014-1

Caracterización de diodos Schottky Pt/GaAs de capa porosa mediante microscopía de efecto túnel.
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